一般來(lái)說(shuō)，LED 的可靠性是以半衰期（即光輸出量減少到最初值一半的時(shí)間）來(lái)表徵，大概在1萬(wàn)到10萬(wàn)小時(shí)之間LED的可靠性測(cè)試包括靜電敏感度特性、壽命、環(huán)境特性等指標(biāo)的測(cè)試。 靜電敏感度特性是指LED能承受的靜電放電電壓。某些LED由于電阻率較高，且正負(fù)電極距離很短，若兩端的靜電電荷累積到一定值時(shí)，這一靜電電壓會(huì)擊穿PN結(jié)，嚴(yán)重時(shí)可將PN結(jié)擊穿導(dǎo)致LED失效，因此必須對(duì)LED的靜電敏感度特性進(jìn)行測(cè)試，獲得LED的靜電放電故障臨界電壓。目前一般采用人體模式、機(jī)器模式、器件充電模式來(lái)類比現(xiàn)實(shí)生活中的靜電放電現(xiàn)象。

為了觀察LED在長(zhǎng)期連續(xù)使用情況下光性能的變化規(guī)律，需要對(duì)LED進(jìn)行抽樣試驗(yàn)，通過(guò)長(zhǎng)期觀察和統(tǒng)計(jì)獲得LED壽命參數(shù)。對(duì)于LED環(huán)境特性的試驗(yàn)往往采用模擬LED在應(yīng)用中遇到的各類自然侵襲，一般有：高低溫沖擊試驗(yàn)、濕度迴圈試驗(yàn)、潮濕試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、沙塵試驗(yàn)、輻照試驗(yàn)、振動(dòng)和沖擊試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)、離心加速度試驗(yàn)等。一般測(cè)試低功率LED的可靠性具體項(xiàng)目有以下幾點(diǎn)：

1.焊錫耐熱性：260℃±5℃，5Sec,外觀和電氣特性無(wú)異常。

2.溫度迴圈試驗(yàn)：85℃（30min)---轉(zhuǎn)換5min---—40℃（30min) 為1cycle, 需做50cycle,外觀和電氣特性無(wú)異常。

3.熱沖擊試驗(yàn)：100℃（5min)---轉(zhuǎn)換10sec---—10℃（5min) 1cycle, 需做50cycle,外觀和電氣特性無(wú)異常。

4.高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)：在溫度100℃環(huán)境下放置1000Hrs,外觀和電氣特性無(wú)異常。

5.低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)：在溫度—40℃環(huán)境下放置1000Hrs,外觀和電氣特性無(wú)異常。

6.高溫高濕放置試驗(yàn)：在溫度85℃/相對(duì)濕度85%RH環(huán)境下放置1000Hrs，外觀和電氣特性無(wú)異常。

7.引腳拉力試驗(yàn)：依據(jù)引腳截面積的大小施加重力/30Sec,引腳須無(wú)拉脫及松動(dòng)，電氣特性無(wú)異常。

8.引腳彎折試驗(yàn)：依據(jù)引腳截面積的大小施加重力，彎折±90度（距本體3mm處）2回，引腳須無(wú)折斷及松動(dòng)，電氣特性無(wú)異常。

9.壽命試驗(yàn)：施加IF電流，連續(xù)工作1000Hrs,外觀和電氣特性無(wú)異常。

備註：在環(huán)境與壽命可靠度試驗(yàn)后，需在25℃下放置24Hrs再測(cè)試電氣特性。